一、定子繞組絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)
    1.絕緣電阻自行規(guī)定。在相近試驗條件下(溫度、濕度)，絕緣電阻值降到歷年正常值1/3以下，應(yīng)查明原因。
    2.各相各分支絕緣電阻值不應(yīng)大于最小值的100%。
    3.吸收比和極化指數(shù)：瀝青浸膠及烘卷云母絕緣，吸收比不應(yīng)小于1.3，極化指數(shù)不應(yīng)小于1.5；環(huán)氧粉云母絕緣吸收比不應(yīng)小于1.6或極化指數(shù)不應(yīng)小于2.0，水內(nèi)冷定子繞組自行規(guī)定。200MW及以上機組推薦極化指數(shù)PI。
    IEEE std43－2000推薦：
    A.PI的最小值(和絕緣耐熱水平有關(guān))，見表1-1。

 注意，如果1min絕緣電阻大于5000MW，計算PI就無意義。此時可不考慮PI。因為此時總的測量電流及其微小，受其他因素影響，PI值已無意義。
    當極化指數(shù)小于1時表示絕緣老化。
    當極化指數(shù)大于5時表示絕緣太干燥，脆化。
    B.絕緣電阻(IR_1min)最小值(40℃，M)見表1-2。

 注：①IR_1min是推薦的最小絕緣電阻，單位兆歐。全部電機繞組在40℃下。
        ②kV是電機的額定線電壓，以有效值表示。
        ③在測三相電樞繞組的一相的最小絕緣電阻時，其它兩相接地，近似為全部繞組的兩倍，如果每相分別試驗及非被試兩相上用屏蔽回路，則最小值應(yīng)為全部繞組的三倍。
    C.溫度的修正。可使用等式
        R_C=K_TR_T
    式中 RC —— 修正到40℃的絕緣電阻，M。
         KT —— 絕緣電阻溫度修正系數(shù)。
         RT —— 測量的絕緣電阻，M。
    KT的近似值為
        KT=(0.5)^(0.45-T/10)
    二、定子繞組泄漏電流和直流耐壓
    1.定子繞組在交接、大修和小修時以及更換繞組后，需進行直流耐壓試驗，并測量泄漏電流。試驗電壓的標準為，在定子全部更換繞組后，為3倍額定電壓；局部換繞組后，為2.5倍額定電壓；大修前：對于不大于20年者，為2.5倍額定電壓，大于20年的非直連架空線者，為2～2.5倍額定電壓；小修時和大修后，為2倍額定電壓。
    2.各相泄漏電流差不應(yīng)大于最小值的100%；最大泄漏電流小于20A者，與歷年試驗結(jié)果比較不應(yīng)有顯著變化。
    3.泄漏電流不隨時間的延長而增大。
    在試驗時，按每級0.5倍額定電壓分階段升高，每階段停留1min，并記錄泄漏電流。
    三、測定子繞組的直流電阻
    規(guī)程規(guī)定：各相分支電阻值，在較正了由于引線長度不同而引起的誤差后，相互間差別與初次值比較，相差不得大于最小值的1.5%(水輪發(fā)電機為1%)
    一般是用電橋法測試，對于小于1Ω者用雙臂電橋，大于1Ω者用單臂電橋或直流電阻測試儀，最好是分相測定，對不能進行分相測定的可用下式進行計算
    Y接線：
        R_a＝(R_AB＋R_CA－R_BC)／2
        R_b＝(R_BC＋R_AB－R_CA)／2
        R_c＝(R_CA＋R_BC－R_AB)／2
    ?接線：
        R_a＝(R_AC－R_P)－R_AB×R_BC／(R_AC－R_P)
        R_b＝(R_AB－R_P)－R_AC×R_BC／(R_AB－R_P)
        R_c＝(R_BC－R_P)－R_AB×R_AC／(R_BC－R_P)
        R_P＝(R_AB＋R_BC＋R_AC)／2
    四、定子繞組交流耐壓試驗
    我國的交接試驗規(guī)定見表1-3。

 對大修前或局部更換繞組并修好后為1.5U_n。
    五、轉(zhuǎn)子繞組的絕緣試驗
    1.絕緣電阻值一般不小于0.5MΩ(室溫)。
    2.水內(nèi)冷轉(zhuǎn)子繞組絕緣電阻一般不小于5kΩ(室溫)。
    3.與初次紀錄值比，差別一般不大于2%(冷態(tài))。
    4.交流耐壓對顯極式轉(zhuǎn)子大修時進行，試驗電壓為5U_n，但不小于1000V，不大于2000V，對隱極式轉(zhuǎn)子只在局部修理槽內(nèi)和局部更換繞組時才進行，試驗電壓同上。